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EDAX社は、X線マイクロ分析用の次期Apollo SDD検出器シリーズを発表した。「EDAXの製品マーケティングディレクターであるJudy O'Loughlin氏は、「Apolloシリーズは、大面積SDDチップを含む様々な検出器サイズと性能レベルを提供する一方で、より重要な特徴である、検出器をサンプルの近くに配置することに重点を置いており、最も優れた設計のSi(Li)検出器に匹敵します。EDAXのApolloシリーズは、両方の長所をユーザーに提供します。すべてのSDDは高分解能でマッピングでき、すべてのSDDは高カウントレートでマッピングできます。Apolloシリーズのユーザーは、両方の利点を同時に得ることができます。
過去数年間、SDD検出器は非常に大量のX線を処理することができ、高速マッピングを可能にしてきた。時には、スループットを向上させるために解像度が犠牲になることもありました。新しい検出器では、高分解能、高速マッピングは、100,000cpsで135eV以上の分解能、スループット30％のデッドタイムと定義されます。
新シリーズは、Genesisソフトウェアを補完し、定性・定量分析、マッピング、粒子分析のための先進機能をすべて材料特性評価科学者にもたらします。「同時に、ApolloシリーズはEDAXの材料特性評価ツールファミリーにシームレスに適合し、市場をリードするEBSDカメラや技術をリードするWDSシステムと容易に統合できます。